本文標(biāo)題:"上海光學(xué)儀器一廠研發(fā)設(shè)計(jì)出全新之測(cè)量?jī)x器"
發(fā)布者:yiyi ------ 分類: 技術(shù)文章 ------
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上海光學(xué)儀器一廠研發(fā)設(shè)計(jì)出全新之測(cè)量?jī)x器 -- 光學(xué)影像測(cè)量?jī)x、干涉顯微鏡塊規(guī)比測(cè)儀及外徑尺寸比測(cè)儀。
一二維光學(xué)量測(cè)設(shè)備上,上海光學(xué)儀器一廠產(chǎn)品維持我國(guó)很高的之市場(chǎng)占有率。
在測(cè)長(zhǎng)儀方面,設(shè)計(jì)以花崗巖為基材,可依客戶所需之長(zhǎng)度而精心裁制。
在應(yīng)用方面不僅可量測(cè)塊規(guī)、環(huán)規(guī)、塞規(guī)、卡規(guī)、分厘卡、螺紋規(guī),更可進(jìn)一步檢測(cè)其它廠牌無法達(dá)到的檢驗(yàn)。如內(nèi)外螺紋之牙距及錐度之檢驗(yàn),且量測(cè)精度更是首屈一指(提供工件、花崗巖及光學(xué)尺之溫度即時(shí)補(bǔ)償),教導(dǎo)式軟體更是使操作者一目了然。
在比測(cè)儀方面,提供ABBE 250外徑比測(cè)儀。采用自動(dòng)上下式探針進(jìn)行量測(cè),減少人為誤差。EMP系列之塊規(guī)比測(cè)儀更是將光學(xué)尺之長(zhǎng)距離檢測(cè)優(yōu)勢(shì)應(yīng)用于此。在進(jìn)行塊規(guī)比對(duì)式量測(cè)時(shí),不需一對(duì)一同尺寸的檢測(cè),如于100 mm之量測(cè)范圍,僅需提供10片以下之標(biāo)準(zhǔn)片,便可進(jìn)行量測(cè)。在整個(gè)量測(cè)過程中,大大的提高時(shí)間效率及降低塊規(guī)成本之預(yù)算,對(duì)整體之效益,提供莫大之幫助。
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上海光學(xué)儀器一廠研發(fā)設(shè)計(jì)出全新之測(cè)量?jī)x器,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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